2013年12月08日
残留雑音評価
無入力でボリュームも絞った状態の残留雑音テストを行います。
テストベンチを使用し、オッシロスコープでの雑音波形の観測、VTVMの指示値の計測、高インピーダンスのテスト用イヤホンによるヒアリングなどで評価します。
発振している場合は、この数値が特に悪化します。
2013年12月08日
最大出力評価(負荷付)
テストベンチを使用し、最大出力を実測し評価します。
通常は1kHz正弦波を使用し、4Ω/8Ωダミーロード(無誘導型・低温度係数)を接続した状態で、オッシロスコープの表示波形にクリップが現れる寸前の状態でのVTVMの指示値を読み取ります。
多chアンプの場合は、各ch間の偏差も確認します。
スペック表の数値と大幅に違いが出る場合は、回路の動作異常が考えられる為、修理対象となります。
2013年12月08日
故障分析(パワーアンプ)
故障箇所が特定できたら、なぜそうなったのかを分析し、対策を講じます。
部品の強化であったり、または運用方法の変更で対応できる場合もあります。
2013年12月08日
故障判定
出力波形を観測しながら、触診や振動印加、過熱、冷却などを駆使し、不良部や部品を特定します。
これには、そもそもどのような動作が正常かを理解している必要があります。
過去の症例を参照する場合もあります。
2013年12月08日
故障深度評価
出力部分に破損部品がある場合、破損はそこだけとは限らないことが多くあります。
回路図などを参照し、想定される故障原因から、論理的に被害の波及範囲を探ります。